X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台

本发明属于检测设备技术领域，具体公开了一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台。该多功能样品台包括底座支架和设置于底座支架上的样品槽；所述样品槽包括依次通过螺丝连接的定位蒙板、样品池和蒙板；所述定位蒙板设置有中轴卡孔，所述中轴卡孔的大小与测角仪样品台的中轴匹配；所述中轴卡孔的下方设置有弹簧卡孔；所述弹簧卡孔的大小与测角仪样品台的弹簧大小相一致；所述样品池的两侧边沿设置有水平泡。本发明以玻璃粉填充样品槽，既可对微量的粉末样品进行测试，也可对片状、大尺寸或不规则、不能裁剪、无法研磨成粉末的样品进行测试，有效解决了当前大尺寸样品无法测试或测试时必须裁剪样品才能测试等问题。

1.一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，包括底座支架和设置于底座支架上的样品槽；所述样品槽包括依次通过螺丝连接的定位蒙板、样品池和蒙板；所述定位蒙板上设置有中轴卡孔，所述中轴卡孔的大小与测角仪样品台的中轴匹配；所述中轴卡孔的下方设置有弹簧卡孔；所述弹簧卡孔的大小与测角仪样品台的弹簧大小相一致；所述样品池的两侧边沿设置有水平泡；所述底座支架设置有两个，其中所述底座支架由基座、导杆和内径千分尺组成，所述基座和导杆通过螺纹连接，所述内径千分尺通过螺丝固定于导杆中。
2.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述样品池的底部设置有半圆形凹槽作为底座支架的支撑点。
3.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述内径千分尺的测量范围为250-275mm，刻度值为0.01mm，精度等级为1级。
4.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述半圆形凹槽设置有两个。
5.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述半圆形凹槽设置于样品池底部外侧。
6.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述底座支架为铝合金底座支架；所述样品槽为铝合金样品槽。
7.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述样品槽的深度为51mm。
8.权利要求1-7任一项所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台应用于粉末、片状、大尺寸、不规则、不能裁剪或无法研磨成粉末的样品的测试。
9.权利要求1-7任一项所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台应用于X’Pert Pro粉末X射线衍射仪中。