在日本京都大学主持并承担了机械零件表面形状精度的激光干涉测量及干涉条纹图像的处理方法的研究,同时作为日本一家精密全自动测量机专业厂家的技术顾问,主持了多种专用全自动测量机的研发,获得了用户的好评;还提出并建立了测量机自身精度的评价与校验的方法,解决了测量机用户反馈回来的诸多疑难问题,获得了用户的广泛好评,并在同行业中确立了较高的技术地位;与他人合作搭建了流体流动图像的激光高速拍摄系统;主持完成了多项适用于IT行业的超精密加工及其相关的超精密检测技术的研发工作,曾是日本微纳米制造与检测设备研发基地的一个节点上的核心人物;主持了透镜形状的超精密测量方法与测量机的研发工作，并解决了其中若干个关键技术问题。     出国前与他人合作完成进口全自动测量机的测控与数据处理系统的研制工作,获部级科技进步三等奖;近年在国际一流学报上发表论文10余篇,已获日本发明专利1项。